儀器設備名稱：多功能掃描探針顯微鏡

型號規格

NS3A

國別廠家

美國Digilat instruments   Inc.

啟用日期

2004.11

負責人

羅玉瓊

設備放置地點

國重樓A209

聯系電話

83032807

技術指標：

1.      噪音水平：＜0.3埃  垂直方向

2.      掃描范圍：125μm×125μm×5.0μm

3.      溫度控制：0.1℃分辨率，最高250℃內良好測試成像

4.      掃描分辨率：＜0.3埃

5.      原子測重復性、穩定性最小可達＜2%（與環境有關）

功能用途：

1.      接觸式原子力顯微測量（C.AFM）， 非接觸式原子力顯微測量（DFM）

2.      摩擦力顯微測量（FFM）， 磁力顯微測量（MFM）， 掃描隧道顯微測量（STM）

3.      液體接觸式原子力顯微測量（C.AFM）， 電化學原子力顯微測量，相位模式（Phase mode），廣泛應用于生命科學、材料科學、物理和化學等領域，可在大氣及溶液中對各類材料納米尺度的表面形貌及物理化學特性進行研究，如尺寸測定、表面粗糙測定、顆粒度解析、缺陷分析等。