全體師生：

分析測試中心場發射透射電子顯微鏡已完成安裝調試，該設備配備超高亮度場發射電子槍，高角環形暗場(HAADF) STEM探測器，可采集高角環形暗場(HAADF)圖像，支持4096*4096像素STEM數據采集，兩個EDS探測器，峰背比（Fiori數）：≥4000，無雜質干擾峰。設備能夠滿足多領域各種樣品的TEM、STEM高分辨成像需求，實現高效精確的納米微區成像分析。透射電子顯微鏡是微區形貌、結構、成分表征的綜合顯微分析設備，廣泛應用于材料、物理、化學、生物醫學、電子半導體、化工、地質等領域。

為進一步提升師生們對高端科研儀器的認識和操作能力，提高實驗人員的測試效率和測試水平。分析測試中心擬對該設備開展試運行，試運行期間，提供免費測試名額，每個課題組可申報1-3個樣品，分析測試中心將根據樣品具體情況進行選擇。試運行期間歡迎校內師生預約測試。

各儀器設備具體的性能指標和樣品要求見附件1《試測儀器設備介紹》，請各位師生按照送樣要求準備測試樣品。

【預約方式】請有測試需求的師生填寫在線表格《分析測試中心送樣申請表》，在線表格鏈接見附件2。（報名預約截止時間2024年12月31日）

【溫馨提示】后期消息會在飛書群內交流，歡迎加群咨詢。

聯系電話：028-83032808

飛書聯系：孫麗穎

實驗室與設備管理處（分析測試中心）

2024年12月6日