儀器設(shè)備名稱：超聲波掃描顯微鏡

型號(hào)規(guī)格

KSI-V400

國別廠家

德國 KSI公司

啟用日期

2010.4

負(fù)責(zé)人

方全堂

設(shè)備放置地點(diǎn)

國重B109

聯(lián)系電話

83032683

技術(shù)指標(biāo)：

1.      配套有400MHZ/60、100MHZ、15MHZ、10MHZ、5MHZ超聲波探頭；

2.      最大分辨率3μm，對(duì)應(yīng)探測(cè)深度100μm；

3.      最大探測(cè)深度15000μm，對(duì)應(yīng)分辨率300μm；

4.      單幅掃描圖片大小為512*512，256灰度；

5.      單次掃描中，平面覆蓋區(qū)域300mm*300mm；

功能用途：

功能：用于材料密度及晶格組織分布檢測(cè)、材料內(nèi)部裂紋檢測(cè)以及材料內(nèi)部的空隙檢測(cè)等方面

系統(tǒng)特征：利用超聲波探頭作為顯微鏡物鏡來生成圖像，實(shí)現(xiàn)樣品內(nèi)部缺陷或空隙檢測(cè)