報(bào)告題目：機(jī)器視覺(jué)在表面缺陷檢測(cè)中的應(yīng)用

報(bào) 告 人：吳一全  教授、博士生導(dǎo)師

報(bào)告時(shí)間：8月1日（周四）  10:30-12：00

報(bào)告地點(diǎn)：明理樓A401

報(bào)告人簡(jiǎn)介：

吳一全，男，南京航空航天大學(xué)電子信息工程學(xué)院信息與通信工程系，教授，博士生導(dǎo)師。長(zhǎng)期從事圖像處理與分析、目標(biāo)檢測(cè)與識(shí)別、圖像編碼與視頻通信、視覺(jué)檢測(cè)與圖像測(cè)量、視頻處理與智能分析、數(shù)字水印與指紋識(shí)別及智能信息處理方向的教學(xué)和科研工作。主持國(guó)家自然科學(xué)基金、航空科學(xué)基金、國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室重點(diǎn)基金、教育部、中國(guó)科學(xué)院基金等48余項(xiàng)科研項(xiàng)目。在國(guó)內(nèi)外核心學(xué)術(shù)期刊和國(guó)際學(xué)術(shù)會(huì)議發(fā)表論文350余篇，其中SCI、EI檢索228篇，被引5000余次，多篇入選“F5000頂尖學(xué)術(shù)論文”。 吳一全教授擔(dān)任20余家著名學(xué)術(shù)期刊的杰出評(píng)審專家，《儀器儀表學(xué)報(bào)》、《兵器與裝備工程學(xué)報(bào)》等期刊編委，并擔(dān)任IEEE國(guó)際會(huì)議程序委員，中國(guó)通信學(xué)會(huì)云計(jì)算與大數(shù)據(jù)專委，江蘇省人工智能學(xué)會(huì)智能遙感常務(wù)專委，科普創(chuàng)作學(xué)會(huì)聯(lián)合體專委，南京市創(chuàng)新投資集團(tuán)專家委員會(huì)專家，兼任國(guó)家重點(diǎn)高新技術(shù)企業(yè)技術(shù)副總監(jiān)和技術(shù)顧問(wèn)，南京市科協(xié)首屆第二屆、第三屆青年創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽信息技術(shù)專家組組長(zhǎng)，蘇州市創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)領(lǐng)軍人才評(píng)審專家。

報(bào)告內(nèi)容摘要：

在半導(dǎo)體、PCB、汽車裝配、液晶屏、3C、光伏電池、紡織等行業(yè)中，產(chǎn)品外觀與產(chǎn)品性能有著千絲萬(wàn)縷的聯(lián)系。表面缺陷檢測(cè)是阻止殘次品流入市場(chǎng)的重要手段。利用機(jī)器視覺(jué)的技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)效率高、成本低，是未來(lái)發(fā)展的主要方向。講座針對(duì)近十年來(lái)基于機(jī)器視覺(jué)的表面缺陷檢測(cè)方法的研究進(jìn)展進(jìn)行總結(jié)，包括缺陷的定義、分類、缺陷檢測(cè)的一般步驟；然后介紹使用傳統(tǒng)圖像處理方式、機(jī)器學(xué)習(xí)、深度學(xué)習(xí)進(jìn)行缺陷檢測(cè)的原理，并比較和分析優(yōu)缺點(diǎn)及性能評(píng)價(jià)指標(biāo)，并對(duì)該領(lǐng)域工作進(jìn)行展望。

主辦單位：電氣信息學(xué)院

科學(xué)技術(shù)發(fā)展研究院